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近赤外シールド材料に適用されたCsドープ酸化タングステンナノ粒子

Csドープ酸化タングステンナノ粒子またはCsxWO3ナノ粒子は、斷熱フィルムや斷熱コーティングなどの近赤外線シールド材料の調(diào)製によく使用されます。また、用意された透明な近赤外線シールド材は、主に建物や車両の斷熱に使用されています。これらの材料が斷熱に役割を果たすことができる理由は、CsxWO3ナノ粒子が優(yōu)れた近赤外線吸収特性を持っているためです。しかし、Csをドープした酸化タングステンナノ粒子とCsxWO3フィルムの光吸収特性をどのようにテストするのでしょうか?

詳細については、以下をご覧ください。

http://cesium-tungsten-bronze.com/japanese/index.html

近赤外シールド材料に適用されたCsドープ酸化タングステンナノ粒子

CsxWO3粉末をBaCl2シートにプレスし、その拡散反射吸収スペクトルをテストすることにより、近赤外線吸収性能を特徴づけました。 CsxWO3フィルムの近赤外線シールド性能は、フィルムでコーティングされたスライドガラス上でその透過スペクトルをテストすることによって特徴づけられました。 BaCl2シートにプレスされたCsxWO3粉末とガラスコーティングされたガラススライドにそれぞれ10分間と30分間UV光(波長254nm、出力30W)を照射し、サンプルの光吸収特性をテストして粉末とフィルムの特性を調(diào)べました。サンプルの近赤外遮蔽特性に及ぼすフォトクロミック特性と紫外線の影響

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