斷熱窓ガラスの製造に用いられる酸化タングステンエレクトロクロミック薄膜はエレクトロクロミック素子の循環(huán)安定性にどのような影響を與えるのか。三酸化タングステンエレクトロクロミック薄膜のXPS分析を通じて、専門家たちは以下の結論を得た：
詳細については、
http://www.tungsten-powder.com/japanese/tungsten-oxide.html
WO 3エレクトロクロミック薄膜はエレクトロクロミック素子のエレクトロクロミック層であり、気泡を発生させる要素の一つである。これもデバイスのサイクル壽命に影響を與える要因の1つである：固有劣化。これに対し、専門家は、このような現(xiàn)象の原因は、調製された電解液中にLi+とClO 4-が存在することであると説明している。素子に外部電圧を印加した後、電解質中のLi+は電場の作用下で負極に移動し、WO 3格子ギャップに入った後、WO 3エレクトロクロミック薄膜に注入してタングステン青銅「LiWO 3」を形成した。サイクル數(shù)が増加するにつれて、WO 3薄膜に注入されたLi＋はWO 3格子中に蓄積される。電気的中性を維持するために、ClO 4?も対極FTOに蓄積される。印加電圧が逆電圧であっても、薄膜は完全に無色狀態(tài)に戻ることはなく、より多くの気泡が発生する。最後に、専門家は、エレクトロクロミック層の循環(huán)安定性の研究はエレクトロクロミック膜の製造に多くの示唆を提供し、特にエレクトロクロミックコーティングの固有分解を遅らせる。
