いくつかの専門家はエレクトロクロミックスマートガラスを製造するWO3薄膜に対して楕円偏光スペクトル試験を行った。では、専門家たちはWO3薄膜に対してどのように分光楕円偏光試験を行ったのだろうか。
詳細(xì)については、次のサイトを參照してください。
http://www.tungsten-powder.com/japanese/tungsten-oxide.html
一部の専門家は電解質(zhì)として0.5MH2SO4を用い、Pt板を?qū)濍姌O、Ag/AgClを參照電極とする三電極系においてWO3膜にエレクトロクロミック特性評(píng)価を行い、それぞれ試料に0V（電圧無(wú)印加）、?0.2V、?0.4V、?0.6V、?0.8V及び?1Vの電圧を印加してエレクトロクロミックを引き起こし、変色後に試料を取り出してスペクトル楕円偏光試験を行った。
スペクトル楕円偏光法とは？スペクトル楕円偏光法は入射光の偏光狀態(tài)変化の測(cè)定に基づいて膜厚と光學(xué)定數(shù)を特徴づける方法である。光學(xué)定數(shù)も材料の內(nèi)部特性を反映しているため、楕円偏光分光法は薄膜材料の酸素空孔、キャリア密度及び極性及びフォノン特性を研究するのにも用いられる。
