SEM掃描PANI-WO3薄膜

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通過SEM來觀察PANI-WO3薄膜，掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。PANI-WO3薄膜的SEM照片如圖5.5所示，可以看出含有WO3的薄膜的表面形貌如矗立的短棒組成，比較粗糙，而S-PANI薄膜比較平整。進(jìn)一步將薄膜刮下后用TEM觀察(圖5.6)，可以看出PANI-WO3復(fù)合薄膜由直徑約20nm的納米棒組成。這種擇優(yōu)生長可以解釋為PTA離子具有限制PANI分子鏈生長方向的作用。XRD圖譜(圖5.7)也發(fā)現(xiàn)PANI-WO3復(fù)合薄膜在2=6.60(d=13.3A)處有一比較尖銳的峰，這與PANI的每個重復(fù)單元的間距相近。而對于S-PANI則沒有出現(xiàn)這個峰。相對清晰的布拉格衍射表明PANI-WO3復(fù)合薄膜具有比較規(guī)律的結(jié)構(gòu)。另一寬化峰出現(xiàn)在2=27.70，對應(yīng)于垂直于PANI鏈的周期，這也證實(shí)了薄膜的擇優(yōu)生長趨勢。

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