タングステン針の品質は走査型電子顕微鏡（stm）の検出能力に直接関係している。タングステンチップのサイズ，形狀および化學的同定はstm像の分解能と形狀だけでなく，測定の電子狀態(tài)にも影響する。従って、タングステンチップの製造が特に重要である。そして、それは特定の曲率半徑でタングステンチップを得るほうがよい。
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http://www.tungsten-carbide.com.cn/Japanese/index.html
stm針の作製にはいくつかの伝統(tǒng)的方法がある。一般に、それらは機械的せん斷、電気化學エッチング、電子又はイオンビーム照射である。しかし，これらの方法はナノスケールで特定のチップサイズを持つstmプローブを制御できない。そこで，電界エッチング技術を用いた電界イオン顕微鏡プラットフォームでは，電界エッチング技術を用いて，特定の曲率半徑をもつナノタングステンチップを実時間で作製できる新しい方法を提案した。
