鎢針的品質(zhì)直接關(guān)系著掃描電子顯微鏡（STM）的探測能力。鎢針尖的大小、形狀和化學(xué)同一性不僅影響STM圖像的分辨率和圖像的形狀，也影響測定的電子態(tài)。因此，鎢針尖的制備顯得尤為重要，理想的結(jié)果是獲得具有特定納米尺寸曲率半徑的鎢針尖。
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傳統(tǒng)的制備STM探測鎢針的方法一般采用機(jī)械剪針法、電化學(xué)刻蝕、電子或離子束轟擊等方法。然而，這幾種方法在納米尺度，都無法可控地制備出特定尖端尺寸的探針。因而專家提出了一種新的制備方法，即在場離子顯微鏡平臺(tái)上，在電化學(xué)刻蝕的基礎(chǔ)上，利用場致刻蝕技術(shù)，實(shí)時(shí)地、可控地制備出特定納米尺寸曲率半徑的鎢針尖。
